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Automatische optische Inspektion elektronischer Bauteile

Bearbeitung:TNT
Laufzeit:2008 - 2011
Förderung durch:Industrie
Bild Automatische optische Inspektion elektronischer Bauteile

In einem vom BMWi geförderten Forschungsprojekt werden Verfahren zur
Inspektion und Klassifikation elektronischer Bauteile, wie z.B. SMD-
Komponenten, entwickelt. Im Rahmen der Qualitätssicherung soll die
einwandfreie Verarbeitung dieser Bauteile in elektronischen Schaltungen
verifiziert werden. Der Schwerpunkt liegt hierbei auf Verfahren des
maschinellen Lernens (Boosting Algorithmen), welche es ausgehend von
Trainingsmengen erlauben, automatisiert entsprechende Klassifikatoren zu
generieren. In diesem Lernprozess wird ein komplexer Klassifikator aus einer
Vielzahl von einfachen Merkmalen wie z.B. rechteckigen Strukturen
zusammengesetzt.

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